점검은 GX53 7006-142-1 CNAS 램프 캡 계측기를 완성합니다

IEC60061-3은 가고, 키웨이를 캡 GX53에서 체크하기 위한 계측기를 가게 하지 않습니다

다음에 따릅니다 :

IEC60968-1, IEC60061-3 GX53

상술 :

(I) 7006-142-1은 가고, 캡 GX53을 위한 계측기를 가게 하지 않습니다

목적을 가지세요 :

캡 GX53을 확인합니다. 안에 다음과 같은 관심 :
개인들 핀의 -그 지름은A)를 치수화합니다 ;
핀의 -그 합병된 치환과 지름 (과 Ｄ 치수화합니다) ;
핀 (차원 F1)의 -그 길이 ;
핀 (차원 F2와 Ｅ)의 -그 휴회 렌링스와 지름 ;
차원 Ｍ, L1과 Ｋ에 대한 -그 최대 한도 개요.

시험을 받는 것 :

그것은 캡의 개별적 핀을 삽입하기 위해 가능합니다
홀 a1 안으로 Ｚ를 포장하고 슬롯을 따라 핀을 제거하세요.
캡의 핀을 구멍 a2에 삽입하는 것은 가능합니다.
표면 Ｚ에서 계측기에서부터 참조까지 캡을 삽입하는 것은 가능합니다
캡의 장소는 계측기의 표면 Ｙ와 접촉합니다.이 위치에서
핀과 센터 포스트 어느쪽도 계측기의 표면을 넘어서 돌출될 것이 아닙니다.

캡스 GX53을 위한 통행 게이지가 아니라 (II)7006-142D-1
목적을 가지세요 :

캡 GX53의 최소 캡 지름 (차원 L1)를 확인합니다
시험을 받는 것 :

캡을 계측기에 삽입하는 것은 가능합니다.

(III)7006-142E-1은 가고, 키웨이를 캡 GX53에서 체크하기 위한 계측기를 가게 하지 않습니다

목적을 가지세요 :

캡을 확인하기 위해 GX53-1 안에 수행원은 다음을 고려합니다
캡 핀에 관련하여 키웨이 자리를 보정하세요 :
키웨이 (차원 Ｗ와 X2)의 최소 높이와 폭
단지 원 핀만 삽입의 가능성을 방지합니다

시험을 받는 것 :

더까지 캡을 계측기에 삽입하는 것은 가능합니다
캡의 기준 평면은 계측기의 표면과 접촉합니다. 그것이 것입니다
그리고 나서 캡을 접촉 위치로 전환하도록 가능하세요.
단지 캡의 원 핀을 계측기와 전환에 삽입하는 것은 가능합니다
접촉 위치로의 계측기.

키웨이를 캡 GX53에서 체크하기 위한 통행 게이지가 아니라 (IV)7006-142F-1
목적을 가지세요 :

캡 GX53의 최소 키웨이 폭 (칫수 X)를 확인합니다
시험을 받는 것 :

캡을 계측기에 삽입하는 것은 가능합니다.

애플리케이션 :

광저우 시스 장비는 IEC, EN, UL, DIN, VDE로부터의 그것들과 다른 사람을 포함하는 가장 공통 표준을 충족시키기 위해 다양한 계측기를 제공합니다. 그와 같은 표준이 이러한 계측기가 적어도 60의 HRC와 거칠기의 견고성으로 고위 스테인레스 강과 적절한 강철로 구성되는 사이즈 & 정의 기타 등등의 점검을 요구하 라고 표준이 요구합니다. 각각 계측기는 보정의 증명서로 공급됩니다.