E40은 계측기를 가게 하고, 램프 캡 게이지를 측정하러 아니오 갑니다

E40 램프 캡 계측기, IEC60061-3 계측기는 어떤 통행 게이지도 가게 하지 않고 가게 하고 어떤 고도 측정하지 않습니다

끝난 램프 Ｅ 나사게이지 위의 E40 캡 게이지 IEC60061-3

E40 램프 캡 게이지 목록 :

목적과 테스트 :

(1) 7006-27-7 (1) 7006-27-7

끝난 램프 위의 캡을 위한 통행 게이지

목적을 가지세요 :

나사산의 최대 디멘션과 끝난 램프 위의 E40 캡의 차원 T1 최저치를 확인합니다

시험을 받는 것 :

끝난 램프 위의 캡이 그것이 갈 한 계측기에 나삽되었을 때, 센터 접촉은 일 것입니다

(2) 7006-28D-1

끝난 램프 위의 캡을 위한 "NOT고 " 계측기

목적을 가지세요 :

끝난 램프 위의 E40 캡의 나사산, 차엔시온 Ｄ의 최소 외부 (주요) 지름을 확인합니다

시험을 받는 것 :

a) 계측기가 끝난 램프 위의 캡의 스레드위에 위치되고 최고인 캡을 잡았을 때, 센터 접촉은 표면 Ｘ를 넘어서 돌출되지 않을 것입니다

b) 오직 중량의 계측기 자체만을 테스트에서 사용할 것입니다.

(3) 7006-52-1 (3) 7006-52-1

끝난 램프를 위한 계측기는 하여 테스트 접촉을 위한 E40 캡과 적합했습니다

목적을 가지세요 :

IEC 거치대들에서 하여 콘태크를 위해 램프 차원을 확인합니다

시험을 받는 것 :

그것을 넘어서 비행기 Ｗ가 비행기 Ｖ 또는 프로젝트에 도달할 때까지 램프가 계측기에 몰릴 수 있다면, 램프 홀더에서 적당한 것에 관한 램프의 형태는 정확할 것으로 추측됩니다.

(4) 7006-53-1 (4) 7006-53-1

끝난 램프를 위한 계측기는 부수적인 접촉에 반대하여 보호를 시험하기 위한 E40 캡과 적합했습니다

목적을 가지세요 :

보호를 부수적인 접촉과 대조합니다

시험을 받는 것 :

부수적인 접촉에 대한 보호에 관한 램프의 형태는 계측기, 계획 Ｗ 안으로 최대한 추진되는 테스트 샘플이 계획 Ｖ를 넘어서 돌출되지 않으면 정확할 것으로 추측됩니다

인증 :

IEC60061-3